在很多测验办法中，激光粒度仪以激光为勘探光源，运用光源散射原理进行粉体丈量，具有丈量规模宽、成果剖析快、重复性好等优势，是一种运用广泛而比较有发展前途的粒度丈量设备。

  激光粒度仪的丈量原理是光散射原理，即光线通过不均匀介质时与颗粒发生相互作用，发生吸收、反射、折射、透射和衍射等现象而使光线所示。

  静态光散射法(Static light scattering，SLS)是选用光电勘探器搜集散射光的光强、能量等信号后，根据散射原理对信息进行核算解读然后获取颗粒尺度信息的丈量办法。这种办法获取的是一次得到的瞬时信息，因而称为静态法。静态光散射法分为:小角向前散射法、全视点散射法、角散射法等。

  激光器宣布的激光通过扩束、准直后成为平行光，颗粒在平行光照射下发生散射，在焦平面上构成Airy斑。对同一种激光源而言，大颗粒对应的光环半径小，小颗粒对应的光环半径大。根据这种原理推导出粒子的粒度及其散布信息的办法称为小角向前法。

  入射光被粒子散射后强度减小，光强衰减份额由粒子粒径巨细决议，运用这种办法来进行的粉体粒径丈量称为全视点法。在某一方向下，粒子的散射光能量的巨细取决于颗粒尺度和描摹，选用这种办法丈量散射光中包括粒子尺度信息的办法称为角散射法。

  动态光散射法（Dynamic light scattering，DLS)是通过丈量光强随时刻的改变来完成粒度丈量的，在更早的文献中也称作光子相关光谱(PCS）和准弹性光散射（QELS)。根据Rayleigh散射原理，在粒子尺度远小于光波波长时，粒子的巨细不再影响散射光相对强度的角散布，在这种状况下无法再运用静态光散射法进行丈量。

  长处:精准、安稳，对尺度散布规模窄的颗粒丈量分辨率到达较高精度;缺陷:大颗粒的存在会极度影响尺度精度，不适用于丈量多涣散样品。

  根据样品性质可选用不同的测验技能。二者比较，静态光散射的粒度剖析仪是丈量数百纳米到几毫米颗粒的广泛运用仪器，而动态光散射法渐渐的变成了丈量亚微米颗粒的行业标准技能。

  该测验是进样一次测验三次，除了均匀球状样品外，其他形状样品计算的粒径有或许跟实践不符，非均匀球体样不同视点计算到的粒径是不同的;别的样品不涣散也会导致粒径偏大，这样的一种状况可优先考虑换一种涣散介质试试;

  D10、D50、D90表明从最大粒径开端算到这些粒径值的颗粒（含重量计）含量分别为10%,50%,90%.比方陈述上的D10=0.45便是表明从最粗粒到0.45um这些颗粒含量占10%。

  纳米级的粒径可以用Zeta测验，丈量规模是0.6nm-6000nm。微米级的可以用激光粒度测验，测验规模是0.02um-2000um。

  1）激光粒度适用于微米级粒径的样品;Zeta粒度(纳米粒度）适用于纳米级粒径样品;

  2）激光粒度所需样品量多，需要将样品涣散到150ml溶剂中，并且测验要到达必定遮光度，就要求样品量多一些;而Zeta只需要涣散在3ml的溶剂中，很低的浓度就可以;

• 上一篇: 常用的颗粒表征技术或者仪器你用过哪些？
• 下一篇: 粒度仪原理