aµm，遮光比能够恰当进步；颗粒较细，比方小于1µm，遮光比应该恰当下降

  拟合残差用以表征反演取得的粒度散布所对应的光能散布与实测的光能散布之间的方均根差错。假如颗粒是圆球形、散射光能散布的丈量差错为零、反演核算准确无误，那么拟合残差应该为零。但实践上因为丈量差错的存在，颗粒形状大多违背球形，以及反演算法的不完善，拟合残差为0是很少呈现的。一个能够学习的数值是1%。大多数情况下拟合残差都小于1%。假如拟合残差明显大于1%，比方到达乃至大于2%，那么就要置疑丈量成果的可靠性了。导致拟合残差过大的原因有以下几种或许：（1）散射光能丈量差错过大（一般呈现在仪器丈量规模的边际，例如0.05µm）；（2）颗粒折射率的输入值与实践值严峻违背；（3）反演核算失利。

  2/g或许m2/ml。假如颗粒是圆球形的，那么知道了样品的粒度散布，咱们就能够核算出样品的比表面积。核算公式如下：

  编者按：本文接受激光粒度仪使用导论之陈述解读篇，对激光粒度仪测试陈述进行了条分缕析，再加上之前的原理篇和结构篇，信任即使是零根底的读者朋友都对激光粒度仪不再生疏。张福根博士系列专栏对激光粒度仪的根本科普也告一段落。在后续的系列文章中，张博士迁就干流激光粒度仪的功能特色、前沿技术等内容做整理评论，并将给出激光粒度仪选型的主张，敬请期待。（作者：张福根）

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